X線の発生、EPMA

概要 Ｘ線マイクロアナライザー（ＥＰＭＡ）は、鉱物微小部分の化学分析に必須の装置である。Ｘ線マイクロアナライザーの装置構成と、どのように定性・定量分析をおこなうかを解説する。
対象／前提 地質科学を学ぶ者、大学の理学部3年次生レベル
キーワード 連続Ｘ線,特性Ｘ線,モーズリーの法則,波長分散,エネルギー分散,相対強度,原子番号効果,吸収補正,蛍光励起補正,ＺＡＦ補正
作成者信州大学　理学部 地質科学科 森清 寿郎
協力者
親教材地球化学実験
更新日2008年8月26日
注意事項
本教材は、平成18年度『現代的教育ニーズ取組支援プログラム』｢教育の質保証プロジェクト｣の支援により開発されたものです。
学習の留意点 Ｘ線の発生機構と分光法、測定されたＸ線強度にどのような補正をおこなって最終分析値とするか、を理解すること。
教材群
  1. mainX線の発生、EPMA
  2. file確認テスト(html)
  3. file電子プローブX線マイクロアナライザ（参考）(html)
  4. fileX線の発生(pdf)
  5. fileX線マイクロアナライザー(pdf)