X線の発生、EPMA | |
概要 | X線マイクロアナライザー(EPMA)は、鉱物微小部分の化学分析に必須の装置である。X線マイクロアナライザーの装置構成と、どのように定性・定量分析をおこなうかを解説する。 |
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対象/前提 | 地質科学を学ぶ者、大学の理学部3年次生レベル |
キーワード | 連続X線,特性X線,モーズリーの法則,波長分散,エネルギー分散,相対強度,原子番号効果,吸収補正,蛍光励起補正,ZAF補正 |
作成者 | 信州大学 理学部 地質科学科 森清 寿郎 |
協力者 | |
親教材 | 地球化学実験 |
更新日 | 2008年8月26日 |
注意事項 | |
本教材は、平成18年度『現代的教育ニーズ取組支援プログラム』「教育の質保証プロジェクト」の支援により開発されたものです。 |
学習の留意点 | X線の発生機構と分光法、測定されたX線強度にどのような補正をおこなって最終分析値とするか、を理解すること。 |
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教材群 |